ACCRETECH RONDCOM CREST FiANA Ultra Küçük Delik İç Yüzey Ölçüm Sistemi
φ0,08 mm temassız prob ve otomatik yerleştirme sistemiyle φ0,14 mm’ye kadar deliklerin iç duvarını ölçen RONDCOM CREST tabanlı sistem.
Üretici: Tokyo Seimitsu (ACCRETECH)
Stoğumuzdaki ürünleri atlasfor.com online mağazamızdan satın alabilirsiniz.
- Yetkili tedarikçi
- 1983'ten beri
- Teknik destek ve ürün seçimi
Açıklama
ACCRETECH RONDCOM CREST FiANA Ultra Küçük Delik İç Yüzey Ölçüm Sistemi: RONDCOM CREST FiANA, φ0,14 mm'ye kadar ultra küçük deliklerin iç duvar yüzeylerinde profil ve yüzey pürüzlülüğünü temassız ölçen otomatik ölçüm sistemidir.
Sistem, dünyanın en yüksek hassasiyetlerinden birine sahip ultra yüksek hassasiyetli yuvarlaklık / silindirik profil ölçüm cihazı RONDCOM CREST üzerine kuruludur. Lineer motorla düşük titreşimli tahrik, hava yataklı temassız destek ve özgün konumlama mekanizmasına; φ0,08 mm temassız prob ve probu ölçüm noktasına hassas biçimde yönlendiren otomatik yerleştirme sistemi eklenmiştir.
Kamera görüntülerini kullanan otomatik prob yerleştirme sistemi; iş parçası konumlama, hizalama, prob yerleştirme ve ölçümü otomatikleştirir. Böylece herkes kısa sürede kolayca ölçüm yapabilir ve prob kırılma riski en aza iner. Prob konumu ve açısı yaklaşık günde bir kez, kılavuz çizgi ekran programı yardımıyla elle ayarlanır.
Ultra küçük delikler genellikle tek noktadan ölçülürken FiANA, hem dönme hem doğrusal yönde tarama ölçümü yapar ve birden fazla ölçüm hattını birleştirerek iç duvarın 3B profilini görselleştirir. İç duvar tahribatsız ölçüldüğü için parçayı kesip yüzeyi açığa çıkarma (kesit alma) hazırlığına gerek kalmaz.
Öne çıkan özellikler
- φ0,14 mm'ye kadar ultra küçük delik iç duvar ölçümü
- φ0,08 mm temassız prob
- Kamera destekli otomatik prob yerleştirme sistemi
- Otomatik iş parçası konumlama ve hizalama
- Dönme ve doğrusal yönde tarama ölçümü
- İç duvarın 3B profil görselleştirmesi
- Kesit gerektirmeyen tahribatsız yüzey pürüzlülüğü ölçümü
- RONDCOM CREST tabanlı ultra yüksek hassasiyet
Uygulama alanları
- Ultra küçük deliklerin iç duvar profil ölçümü
- Ultra küçük deliklerde yüzey pürüzlülüğü ölçümü
- Yuvarlaklık, silindiriklik ve doğrusallık (Z) değerlendirmesi
Teknik veriler
| Özellik | Değer |
|---|---|
| Minimum ölçülebilir delik çapı | φ0,14 mm |
| Prob | φ0,08 mm temassız prob |
| Ölçüm tipi | Döner tablalı, temassız |
| Ölçüm kalemleri | Yuvarlaklık, silindiriklik, doğrusallık (Z), yüzey pürüzlülüğü (dönme ve doğrusal yönde) |
| Temel cihaz | RONDCOM CREST |
Sık sorulan sorular
RONDCOM CREST FiANA en küçük hangi deliği ölçebilir?
Minimum φ0,14 mm çaplı deliklerin iç duvar profilini ve yüzey pürüzlülüğünü ölçebilir.
Yüzey pürüzlülüğü için parçayı kesmek gerekir mi?
Hayır. İç duvar tahribatsız ölçüldüğü için kesit alma hazırlığına gerek kalmaz.
Fiyat ve teslim süresi nasıl öğrenilir?
Ürün sayfasındaki FİYAT AL sekmesinden ya da Ata Teknik satış ekibinden teklif alabilirsiniz.
